离子减薄制样/第三方检测/铄思百检测

仪器名称：

离子减薄制样

型    号：

Gatan PIPS 695； Gatan PIPS 691

离子减薄制样检测项目：

离子束减薄，表面氧化膜去除

离子减薄制样应用范围：

适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。可以单面或双面做样品离子束减薄；设备配有冷台，减少由于离子束轰击产生热量使样品析出相发生变化。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测

离子减薄制样要求：

处理前试样厚度：D<0.08mm

离子减薄制样测试流程 1、客户提出测试要求（在线预约） 2、细节沟通（电话沟通） 3、下载填写测试委托单 4、测试委托单和样品邮寄 5、联系客服付款 6、安心等待 7、接受数据发票 8、后期服务

以上是离子减薄制样的相关介绍，如有其它检测需求可以咨询实验室工程师，为您一对一服务。