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仪器名称：

透射电子显微镜（TEM-EDS）

型    号：

Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正电镜

透射电子显微镜（TEM-EDS）检测项目：

形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可） 选区电子衍射（环衍射、点衍射） 高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可） EDS能谱（点扫、线扫、面扫） 明场、暗场 Mapping 球差电镜

透射电子显微镜（TEM-EDS）应用范围：

可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。

透射电子显微镜（TEM-EDS）制样要求：

块体样品，要求样品大小为直径3mm的圆，厚度为200nm以下;

粉末和液体样品，要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥，粉末样>0.01g,液体样>5ml;

生物样可做超薄冷冻切片制；

金属样、陶瓷样、块状样可以FIB制样；

离子减薄需要样品机械磨样到100um。

透射电子显微镜（TEM-EDS）测试流程 

1、客户提出测试要求（在线预约） 

2、细节沟通（电话沟通） 

3、下载填写测试委托单 

4、测试委托单和样品邮寄 

5、联系客服付款 

6、安心等待 

7、接受数据发票 

8、后期服务

以上是对的场透射电子显微镜（TEM-EDS）相关介绍，如有其它检测需求可以咨询实验室工程师，为您一对一服务。